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研究設備名称／型式 Machine |
メーカー Manufacturer |
設置場所 Location |
対象 Openness |
詳細/予約 Detail/Reserve |
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| 2 公開停止中 |
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X線光電子分光分析装置（XPS） ESCA-5500MT | アルバック・ファイ（ULVAC-PHI） | 大岡山 南7号館／410号室 |
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X線／紫外光電子分光分析装置（XPS） PHI-1600 | アルバック・ファイ（ULVAC-PHI） | 大岡山 南7号館／410号室 |
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走査型X線光電子分光分析装置（XPS） VersaProbe | アルバック・ファイ（ULVAC-PHI） | 大岡山 南7号館／410号室 |
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環境制御型光電子分光／昇温脱離分光装置（XPS） ESCA1700R | アルバック・ファイ（ULVAC-PHI） | すずかけ台 G1棟／618号室 |
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X線CT inspeXio SMX-225CT | 島津製作所 | 大岡山 南7号館／601号室 |
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マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析計 MALDI-8030 | 島津製作所 | 大岡山 南8号館／819号室 |
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透過型電子顕微鏡（TEM） H-8100 | 日立ハイテク | すずかけ台 J2・J3棟／507号室 |
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走査型電子顕微鏡（SEM） S-4800 | 日立ハイテク | すずかけ台 J2・J3棟／507号室 |
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電界放出型走査電子顕微鏡（SEM） S-5500 | 日立ハイテク | 大岡山 東2号館／204号室 |
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集束イオンビーム加工装置（FIB） FB2200 | 日立ハイテク | すずかけ台 J2・J3棟／507号室 |
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単色光X線回折装置（XRD） SmartLab | リガク | すずかけ台 G1棟／701号室 |
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ナノ粒子解析装置 SZ-100 | 堀場製作所 | 大岡山 南1号館／213号室 |
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雰囲気制御型走査型電子顕微鏡（SEM） JSM-6610 | 日本電子 | すずかけ台 G1棟／016号室 |
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分析走査電子顕微鏡（SEM） JSM-6510LA | 日本電子 | 大岡山 南1号館／212号室 |
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X線光電子分光光度計（XPS） JPS-9010 | 日本電子 | 大岡山 南1号館／207号室 |
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二重収束型質量分析計（DF-MS） JMS-700 | 日本電子 | 大岡山 東1号館／13号室 |
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小角X線散乱装置（SAXS） NANOPIX mini | リガク | 大岡山 南3号館／204号室 |
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共焦点ラマン顕微鏡 XploRA PLUS | 堀場製作所 | 大岡山 南7号館／506号室 |
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X線分析顕微鏡装置 M4 TORNADO | ブルカージャパン | 大岡山 南7号館／204号室 |
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3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A | 東京インスツルメンツ | 大岡山 西4号館／102号室 |
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