東京工業大学 共用機器管理システム

機器詳細情報 ユニット:ナノ組織観察システム

  • 透過型電子顕微鏡(TEM)
  • H-8100
設備IDID No.13
メーカーManufacturer日立ハイテクノロジーズ
検索キーワードKeyword顕微鏡、電子顕微鏡、透過電子顕微鏡、TEM、表面分析
概要・性能Outline電子線を照射したとき透過した電子を拡大した結像・シグナル・密度から、試料の表面微細構造や組成分布を探索する
仕  様Spec
設置場所Locationすずかけ台J2-507
機器管理者Machine Administrator物質理工学院 北本仁孝
連絡先(内線)Contact(Internal)5424
予約方式Reserve Type通常予約

利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees

学内 / Within University学外 / Outside University
(セルフ / Self use)(依頼測定 / Measurement request)学術利用
(本学以外の大学又は公的機関)
産業利用
(公企業・私企業)
利用の可否Accept/Not
利用者による測定:
基本料金Fees
15,000円/日

留意点 / Notes

集中講習、実験内容・条件について相談後に講習を経て使用可能後に使用可能