東京工業大学 共用機器予約システム

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研究設備名称/型式
Machine
メーカー
Manufacturer
設置場所
Location
対象
Openness
詳細/予約
Detail/Reserve
81 超遠心機 Optima XE-90 BECKMAN COULTER (Optima XE-90) 大岡山 南1号館321号室
80 波長分散型蛍光X線分析装置(XRF) PW4400/40 Malvern Panalytical すずかけ台 J2棟509号室
79 薄膜X線回折装置(XRD) X’Pert-Pro MRD Malvern Panalytical すずかけ台 J2棟603号室
78 質量分析計(MS) JMS-T100LC 日本電子㈱ 大岡山 本館304号室
77 赤外分光光度計(IR) FT/IR-4200 日本分光㈱ 大岡山 本館304号室
76 紫外可視近赤外分光光度計 U-4100 日立ハイテクサイエンス 大岡山 本館304号室
75 デスクトップX線回折装置(XRD) Mini Flex リガク 大岡山 南7号館/601号室
73 TG-DSC STA449F3 Jupiter NETZSCH 大岡山 西4号館102A号室
72 核磁気共鳴分光装置 AVANCE III HD ブルカージャパン 大岡山 東2号館103号室
71 南7号館加工室 フライス盤, 旋盤, ボール盤, 帯鋸 詳細参照 大岡山 南7号館B03号室
70 核磁気共鳴分光装置 JNM-ECZ400S/L 日本電子 大岡山 東2号館103号室
68 X線回折装置 RINT-2100V リガク すずかけ台 J2・J3棟603号室
67 物理特性測定システム PPMS 日本カンタム・デザイン 大岡山 南3号館204号室
66 3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A 東京インスツルメンツ 大岡山 西4号館102号室
65 X線分析顕微鏡装置 M4 TORNADO ブルカージャパン 大岡山 南7号館204号室
64 共焦点ラマン顕微鏡  XploRA PLUS 堀場製作所 大岡山 南7号館506号室
63 小角X線散乱装置  NANOPIXmini リガク 大岡山 南3号館204号室
60 二重収束型質量分析計(DF-MS) JMS 700 日本電子 大岡山 東1号館13号室
40 X線光電子分光光度計(XPS) JPS 9010 日本電子 大岡山 南1号館207号室
39 分析走査電子顕微鏡 (SEM) JSM-6510LA 日本電子 大岡山 南1号館212号室
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