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研究設備名称/型式 Machine |
メーカー Manufacturer |
設置場所 Location |
対象 Openness |
詳細/予約 Detail/Reserve |
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超遠心機 Optima XE-90 | BECKMAN COULTER | 大岡山 南1号館/321号室 |
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波長分散型蛍光X線分析装置(XRF) PW4400/40 | Malvern Panalytical | すずかけ台 J2・J3棟/509号室 |
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薄膜X線回折装置(XRD) X'Pert-Pro MRD | Malvern Panalytical | すずかけ台 J2・J3棟/603号室 |
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質量分析計(MS) JMS-T100LC | 日本電子 | 大岡山 本館/304号室 |
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赤外分光光度計(IR) FT/IR-4200 | 日本分光 | 大岡山 本館/304号室 |
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紫外可視近赤外分光光度計 U-4100 | 日立ハイテクサイエンス | 大岡山 本館/304号室 |
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デスクトップX線回折装置(XRD) Mini Flex | リガク | 大岡山 南7号館/601号室 |
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TG-DSC STA449F3 Jupiter | NETZSCH | 大岡山 西4号館/102A号室 |
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核磁気共鳴分光装置 AVANCE III HD | ブルカージャパン | 大岡山 東2号館/103号室 |
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南7号館加工室 フライス盤 旋盤 ボール盤 帯鋸 | ※「仕様」参照 | 大岡山 南7号館/B03号室 |
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核磁気共鳴分光装置 JNM-ECZ400S/L | 日本電子 | 大岡山 東2号館/103号室 |
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X線回折装置 RINT-2100V | リガク | すずかけ台 J2・J3棟/603号室 |
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物理特性測定システム PPMS | 日本カンタム・デザイン | 大岡山 南3号館/204号室 |
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3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A | 東京インスツルメンツ | 大岡山 南8号館/719A号室 |
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X線分析顕微鏡装置 M4 TORNADO | ブルカージャパン | 大岡山 南7号館/204号室 |
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共焦点ラマン顕微鏡 XploRA PLUS | 堀場製作所 | 大岡山 南7号館/506号室 |
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小角X線散乱装置(SAXS) NANOPIX mini | リガク | 大岡山 南3号館/204号室 |
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X線光電子分光光度計(XPS) JPS-9010 | 日本電子 | 大岡山 南1号館/207号室 |
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分析走査電子顕微鏡(SEM) JSM-6510LA | 日本電子 | 大岡山 南1号館/212号室 |
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雰囲気制御型走査型電子顕微鏡(SEM) JSM-6610 | 日本電子 | すずかけ台 G1棟/016号室 |
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