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研究設備名称／型式 Machine |
メーカー Manufacturer |
設置場所 Location |
対象 Openness |
詳細/予約 Detail/Reserve |
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| 80 公開停止中 |
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波長分散型蛍光X線分析装置(XRF) PW4400/40 | Malvern Panalytical | すずかけ台 J2棟509号室 |
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| 79 公開停止中 |
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薄膜X線回折装置(XRD) X’Pert-Pro MRD | Malvern Panalytical | すずかけ台 J2棟603号室 |
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質量分析計(MS) JMS-T100LC | 日本電子㈱ | 大岡山 本館304号室 |
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赤外分光光度計(IR) FT/IR-4200 | 日本分光㈱ | 大岡山 本館304号室 |
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紫外可視近赤外分光光度計 U-4100 | 日立ハイテクサイエンス | 大岡山 本館304号室 |
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| 75 |
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デスクトップX線回折装置(XRD) Mini Flex | リガク | 大岡山 南７号館/601号室 |
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核磁気共鳴分析装置 400MHz AVANCE III | ブルカージャパン | 大岡山 東２号館103号室 |
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TG-DSC STA449F3 Jupiter | NETZSCH | 大岡山 西4号館102A号室 |
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核磁気共鳴分光装置 AVANCE III HD | ブルカージャパン | 大岡山 東2号館103号室 |
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南7号館加工室 フライス盤, 旋盤, ボール盤, 帯鋸 | 詳細参照 | 大岡山 南7号館B03号室 |
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核磁気共鳴分光装置 JNM-ECZ400S/L | 日本電子 | 大岡山 東2号館103号室 |
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X線回折装置 RINT-2100V | リガク | すずかけ台 J2・J3棟603号室 |
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物理特性測定システム PPMS | 日本カンタム・デザイン | 大岡山 南３号館204号室 |
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３D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A | 東京インスツルメンツ | 大岡山 西4号館102号室 |
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X線分析顕微鏡装置 M4 TORNADO | ブルカージャパン | 大岡山 南７号館204号室 |
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共焦点ラマン顕微鏡 XploRA PLUS | 堀場製作所 | 大岡山 南７号館506号室 |
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小角X線散乱装置 NANOPIXmini | リガク | 大岡山 南3号館204号室 |
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二重収束型質量分析計(DF-MS) JMS 700 | 日本電子 | 大岡山 東1号館13号室 |
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| 54 公開停止中 |
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粉末結晶X線回折装置(XRD) Smart Lab | リガク | 大岡山 本館349号室 |
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| 53 公開停止中 |
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極微小結晶X線構造解析装置(XRD) R-AXIS RAPID-II | リガク | 大岡山 本館370号室 |
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