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研究設備名称／型式 Machine |
メーカー Manufacturer |
設置場所 Location |
対象 Openness |
詳細/予約 Detail/Reserve |
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X線回折装置 RINT-2100V | リガク | すずかけ台 J2・J3棟 603号室 |
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物理情報測定システム PPMS | 日本カンタムデザイン株式会社 | 大岡山キャンパス 本館H254号室 |
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３D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder30A | 東京インスツルメンツ | 大岡山 西4号館102号室 |
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X線分析顕微鏡装置 M4 TORNADO | ブルカー | 大岡山 南７号館7階711号室 |
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共焦点ラマン顕微鏡 XploRA PLUS | ㈱堀場製作所 | 大岡山 本館H254号室 |
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小角X線散乱測定装置 NANOPIXmini | ㈱リガク | 大岡山 本館H254号室 |
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（予約できません）UAT用 TEST | TEST | 南1号館307 |
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二重集束型質量分析計（DF-MS） JMS 700 | 日本電子 | 大岡山 E1-13 |
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超高感度等温滴定型熱量計システム iTC200 | GEヘルスケアジャパン | 大岡山 東1号館13号室 |
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粉末結晶X線回折装置(XRD) Smart Lab | リガク | 大岡山 本館H349号室 |
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極微小結晶X線構造解析装置(XRD) R-AXIS RAPID-II | リガク | 大岡山 本館H370号室 |
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極微小結晶用X線回折装置(XRD) VariMax with Saturn724 | リガク | 大岡山 西4号館401号室 |
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小角X線散乱装置 NANOSTAR-U | ブルカージャパン | 大岡山 本館272号室（分析機器室） |
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広角X線散乱装置 D8 DISCOVER | ブルカージャパン | 大岡山 本館272号室（分析機器室） |
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全自動多目的X線回折装置 D8 ADVANCE/TXS | ブルカージャパン | 大岡山 S7-601 |
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液体クロマトグラム飛行時間型質量分析計（LC-TOFMS）（コールドスプレーイオン源、窒素ガス発生装置を含む） LMS-100LC | 日本電子 | 大岡山 E2-202 |
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電子スピン共鳴装置(ESR) JES-X320 | 日本電子 | 大岡山 南1号館501号室 |
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400MHzFTNMR装置(NMR) JNM-ECX-400P | 日本電子 | 大岡山 東2号館103号室 |
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X線光電子分光光度計（XPS） JPS 9010 | 日本電子 | 大岡山S1-207 |
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分析走査電子顕微鏡 (SEM) JSM-6510LA | 日本電子 | 大岡山 S1-212 |
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