東京工業大学 共用機器管理システム

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研究設備名称/型式
Machine
メーカー
Manufacturer
設置場所
Location
対象
Openness
詳細/予約
Detail/Reserve
65 X線分析顕微鏡装置 M4 TORNADO ブルカー 南7号館7階711号室
64 共焦点ラマン顕微鏡  XploRA PLUS ㈱堀場製作所 大岡山 本館H254号室
63 小角X線散乱測定装置  NANOPIXmini ㈱リガク 大岡山 本館H254号室
62 (予約できません)TEST TEST TEST 南1号館307
60 二重集束型質量分析計(DF-MS) JMS 700 日本電子 大岡山 E1-13
55 超高感度等温滴定型熱量計システム iTC200 GEヘルスケアジャパン 大岡山 東1号館13号室
54 粉末結晶X線回折装置(XRD) Smart Lab リガク 大岡山 本館H349号室
53 極微小結晶X線構造解析装置(XRD) R-AXIS RAPID-II リガク 大岡山 本館H370号室
52 極微小結晶用X線回折装置(XRD) VariMax with Saturn724 リガク 大岡山 西4号館401号室
49 小角X線散乱装置 NANOSTAR-U ブルカージャパン 大岡山 本館272号室(分析機器室)
48 広角X線散乱装置 D8 DISCOVER ブルカージャパン 大岡山 本館272号室(分析機器室)
47 全自動多目的X線回折装置 D8 ADVANCE/TXS ブルカージャパン 大岡山 S7-601
44 液体クロマトグラム飛行時間型質量分析計(LC-TOFMS)(コールドスプレーイオン源、窒素ガス発生装置を含む) LMS-100LC 日本電子 大岡山 E2-202
43 電子スピン共鳴装置(ESR) JES-X320 日本電子 大岡山 南1号館501号室
42 400MHzFTNMR装置(NMR) JNM-ECX-400P 日本電子 大岡山 東2号館103号室
40 X線光電子分光光度計(XPS) JPS 9010 日本電子 大岡山S1-207
39 分析走査電子顕微鏡 (SEM) JSM-6510LA 日本電子 大岡山 S1-212
38 雰囲気制御型走査型電子顕微鏡 (SEM) JSM-6610 日本電子 すずかけ台 G1-016
37 SQUID磁束計(SQUID) MPMS-2WT カンタム・デザイン すずかけ台 G1棟016室
35 反応性イオンエッチング装置(RIE) RIE-10NR サムコ 大岡山 S1-606A
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