機器詳細情報 ユニット：【Ｂ】構造解析システム
- 小角X線散乱装置（SAXS）
- NANOPIX mini
| 設備IDID No. | 63 |
|---|---|
| メーカーManufacturer | リガク |
| 検索キーワードKeyword | 超小角散乱 超小角X線散乱 超小角Ｘ線散乱 粒子径分布 粒子形状 SAXS USAXS Small Angle X-ray Scattering Nanoparticles Nanoparticle size Size distribution Rigaku NANOPIX mini NANOPIXmini |
| 概要・性能Outline | X線小角散乱（Small Angle X-ray Scattering）とは、X線を物質に照射して散乱するX線のうち、散乱角が小さいものを測定することにより物質の構造情報を得る手法である。略してSAXSという。 |
| 仕 様Spec | 【特色】 小角X線散乱法は、平均粒子径や粒子径分布を測定することができる。測定から解析まで数分～数十分で完了。 【仕様】 測定可能粒子範囲 5nm~1,000nm 測角範囲 -0.05°～1.75° X線源出力 600W 検出器 D/teX Ultra250 【実例】 薄膜評価、小角散乱、粉末解析 |
| 設置場所Location | 大岡山 南3号館／204号室 |
| 機器管理者Machine Administrator | 物質科学分析機器共用システムPAIMS 技術担当 |
| 連絡先（内線）Contact(Internal) | tech[at]tokyotech-pai.jp（3513） |
| 予約方式Reserve Type | 通常予約 |
利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees
| 学内 / Within University | 学外 / Outside University | |||
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| （セルフ / Self use） | （依頼測定 / Measurement request） | 学術利用 （本学以外の大学又は公的機関） | 産業利用 （公企業・私企業） |
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| 利用の可否Accept/Not |  |  | | |
| 利用者による測定： 基本料金Fees | 1,000円/1時間 上限10,000円/10～24時間 | |||
| 講習会受講料Training fee | 1,000円/回（一人当たり） | |||
留意点 / Notes
自己測定の利用希望者は、機器管理者からオペトレを受講した後、自己測定を行う。