東京工業大学 共用機器管理システム

機器詳細情報 ユニット:構造解析システムシステム

  • 小角X線散乱測定装置 
  • NANOPIXmini
設備IDID No.63
メーカーManufacturer㈱リガク
検索キーワードKeywordSAXS 小角散乱 粒子径分布 粒子形状
概要・性能OutlineX線小角散乱(small angle X-ray scattering)とは、X線を物質に照射して散乱するX線のうち、散乱角が小さいものを測定することにより物質の構造情報を得る手法である。略してSAXSという。
仕  様Spec特色:小角X線散乱法は、平均粒子径や粒子径分布を測定することができる。測定から解析まで数分~数十分で完了。 仕様:  測定可能粒子範囲   5nm~1,000nm  測角範囲       -0.05°~1.75°  X線源出力       600W  検出器        D/teX Ultra250 実例: 薄膜評価、小角散乱、粉末解析 
設置場所Location大岡山 本館H254号室
機器管理者Machine Administrator物質理工学院 先端研究基盤共用促進事業 中薗豊
連絡先(内線)Contact(Internal)3513
予約方式Reserve Type通常予約

利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees

学内 / Within University学外 / Outside University
(セルフ / Self use)(依頼測定 / Measurement request)学術利用
(本学以外の大学又は公的機関)
産業利用
(公企業・私企業)
利用の可否Accept/Not
利用者による測定:
基本料金Fees
500円/時間 5,000円/日

留意点 / Notes

自己測定の利用希望者は、機器管理者からオペトレを受講した後、自己測定を行う。