機器詳細情報 ユニット：【Ｇ】物性測定・加工システム
- ナノ粒子解析装置
- SZ-100
| 設備IDID No. | 28 |
|---|---|
| メーカーManufacturer | 堀場製作所 |
| 検索キーワードKeyword | ナノ粒子 粒子径分布 ゼータ電位 nanoPartica Nanoparticles Analyzer Particle size distribution Zeta potential HORIBA SZ-100 SZ100 |
| 概要・性能Outline | 光散乱法により液中微粒子の粒径、ゼータ電位を測定し、分子量の算出が可能 |
| 仕 様Spec | 測定粒径範囲：0.3 nm～8 μm（分子量算出は1000以上）、必要液量：1mL以上、測定時間：3分程度 |
| 設置場所Location | 大岡山 南1号館／213号室 |
| 機器管理者Machine Administrator | 物質理工学院 久保内昌敏 |
| 連絡先（内線）Contact(Internal) | g-nano[at]tokyotech-pai.jp（2119） |
| 予約方式Reserve Type | 通常予約 |
利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees
| 学内 / Within University | 学外 / Outside University | |||
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| （セルフ / Self use） | （依頼測定 / Measurement request） | 学術利用 （本学以外の大学又は公的機関） | 産業利用 （公企業・私企業） |
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| 利用の可否Accept/Not |  |  | | |
| 利用者による測定： 基本料金Fees | 1,000円/1時間 | |||
| 講習会受講料Training fee | 1,000円/回（一人当たり） | |||
留意点 / Notes
実験内容・条件について相談後講習を経て使用可能、ガラスセルなど壊れやすい部品が多いため取扱い注意