東京工業大学 共用機器管理システム

機器詳細情報 ユニット:物性測定・加工システム

  • ナノ粒子解析装置
  • SZ-100
設備IDID No.28
メーカーManufacturer堀場製作所
検索キーワードKeywordナノ粒子、粒子径、ゼータ電位
概要・性能Outline光散乱法により液中微粒子の粒径、ゼータ電位を測定し、分子量の算出が可能
仕  様Spec測定粒径範囲:0.3 nm~8 μm(分子量算出は1000以上)、必要液量:1mL以上、測定時間:3分程度
設置場所Location大岡山 S1-213
機器管理者Machine Administrator物質理工学院応用化学系 久保内昌敏
連絡先(内線)Contact(Internal)g-nano[at]tokyotech-pai.jp (2119)
予約方式Reserve Type通常予約

利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees

学内 / Within University学外 / Outside University
(セルフ / Self use)(依頼測定 / Measurement request)学術利用
(本学以外の大学又は公的機関)
産業利用
(公企業・私企業)
利用の可否Accept/Not
利用者による測定:
基本料金Fees
500円/時間

留意点 / Notes

実験内容・条件について相談後講習を経て使用可能、ガラスセルなど壊れやすい部品が多いため取扱い注意