【東京科学大学 PAIMS共用機器予約システム】 (Science Tokyo)Analytical Instrument Reservation System

機器詳細情報 ユニット:【C】最表面分析システム

  • X線/紫外光電子分光分析装置(XPS)
  • PHI-1600
設備IDID No.3
メーカーManufacturerアルバック・ファイ(ULVAC-PHI)
検索キーワードKeywordX線光電子分光計 X線光電子分光計
X線光電子分光光度計 X線光電子分光光度計
XPS ESCA
X-ray Photoelectron Spectroscopy
ULVAC-PHI
概要・性能Outline試料表面にX線を照射し、生じる光電子のエネルギーから構成元素や化学(結合)状態について探索可能。
元素濃度分析が可能(Li〜)

9/18 中和銃が使用できません。
   現在対応中ですが、復帰時期は未定です。

仕  様SpecX線源 :モノクロメータAl kα(最大出力300W) 
付属装置1:絶縁性試料のための中和電子銃 
  付属装置2:試料破断装置 
分析領域サイズ:0.15~0.8mmΦ 
試料サイズ:1インチホルダーに載せられる程度(厚さ最大7mm程度) 
※イオン銃は装備されていないので表面スパッタはできません。

設置場所Location大岡山 南7号館/410号室
機器管理者Machine Administrator技術専門員 金井貴子
連絡先(内線)Contact(Internal)c-phi[at]tokyotech-pai.jp(3356)
予約方式Reserve Type仮予約(要承認)

利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees

学内 / Within University学外 / Outside University
(セルフ / Self use)(依頼測定 / Measurement request)学術利用
(本学以外の大学又は公的機関)
産業利用
(公企業・私企業)
利用の可否Accept/Not
利用者による測定:
基本料金Fees
3,000円/1時間 上限30,000円/日
講習会受講料Training fee3,000円/1時間/人

留意点 / Notes

実験内容・条件について事前相談後、講習を経てライセンス授与後使用可能