東京工業大学 共用機器管理システム

機器詳細情報 ユニット:ナノ組織観察システム

  • 集束イオンビーム加工装置(FIB)
  • FB2200
設備IDID No.16
メーカーManufacturer日立ハイテクノロジーズ
検索キーワードKeyword顕微鏡、電子顕微鏡、表面分析
概要・性能Outline集束イオンビームを照射し、設定領域に対する加工を行うことで所定部位の切り出しを行うことが可能
仕  様Specマイクロサンプリング機能搭載
設置場所Locationすずかけ台J2-507
機器管理者Machine Administrator北本仁孝
連絡先(内線)Contact(Internal)5424
予約方式Reserve Type通常予約

利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees

学内 / Within University学外 / Outside University
(セルフ / Self use)(依頼測定 / Measurement request)学術利用
(本学以外の大学又は公的機関)
産業利用
(公企業・私企業)
利用の可否Accept/Not
利用者による測定:
基本料金Fees

留意点 / Notes

集中講習、実験内容・条件について相談後に講習を経て使用可能後に使用可能