機器詳細情報 ユニット：【Ａ】ナノ組織観察システム
- 集束イオンビーム加工装置（FIB）
- FB2200
| 設備IDID No. | 16 |
|---|---|
| メーカーManufacturer | 日立ハイテク |
| 検索キーワードKeyword | 収束イオンビーム FIB SEM TEM 表面分析 表面観察 透過型電子顕微鏡 透過電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 走査電子顕微鏡 Focused Ion Beam |
| 概要・性能Outline | 集束イオンビームを照射し、設定領域に対する加工を行うことで所定部位の切り出しを行うことが可能 |
| 仕 様Spec | マイクロサンプリング機能搭載 |
| 設置場所Location | すずかけ台 J2・J3棟／507号室 |
| 機器管理者Machine Administrator | 物質科学分析機器共用システムPAIMS 久保山 |
| 連絡先（内線）Contact(Internal) | a-hfib[at]tokyotech-pai.jp（3513） |
| 予約方式Reserve Type | 通常予約 |
利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees
| 学内 / Within University | 学外 / Outside University | |||
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| （セルフ / Self use） | （依頼測定 / Measurement request） | 学術利用 （本学以外の大学又は公的機関） | 産業利用 （公企業・私企業） |
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| 利用の可否Accept/Not |  | |  | |
| 利用者による測定： 基本料金Fees | 3,000円/1時間 上限20,000円/日(10:00~17:00) | 40,000円/1サンプル | ||
| 講習会受講料Training fee | 3,000円/1時間/人 | |||
留意点 / Notes
実験内容・条件について相談後に実習講習を経てセルフユーズ可能。 J2 507号室はテンキー方式です。暗証番号は利用者講習受講後に提供します。 予約可能時間帯以外の時間帯での利用に関しては、機器管理者と事前相談してください。