東京工業大学 共用機器管理システム

機器詳細情報 ユニット:構造解析システム

  • 単色光X線回折装置(XRD)
  • SmartLab
設備IDID No.19
メーカーManufacturerリガク
検索キーワードKeywordXRD
概要・性能OutlineX線は、波長が短く、エネルギーの高い電磁波の為、回折によって原子の配列情報が取得でき元素同定が可能である。 原子が正しく配列している(配列面を格子面という)物質に、原子の間隔と同程度の波長(0.5Å~3.0Å)を持つX線を入射すると、各原子で散乱されたX線が、ある特定の方向で干渉しあい、強いX線を生じる。このX線の回折を観察(X線回折プロファイル)することで、 物質の同定を行う。
仕  様Spec特色・仕様: 本装置は、単色光X線回折装置である。非暴露仕様のため、大気非接触でX線回折分析が可能である。また単色光であることから正確な構造解析ができ、時間をかけることにより高精度の分析結果が期待できる。論文データ用に使用。  装置が測定の最適条件をガイダンスすることで、膜厚測定、配向測定、粒径空孔径分布測定等薄膜材料の測定を可能としている。 実例:セラミックス粉末の構造解析
設置場所Locationすずかけ台 G1棟701号室
機器管理者Machine Administrator鈴木耕太
連絡先(内線)Contact(Internal)5570
予約方式Reserve Type通常予約

利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees

学内 / Within University学外 / Outside University
(セルフ / Self use)(依頼測定 / Measurement request)学術利用
(本学以外の大学又は公的機関)
産業利用
(公企業・私企業)
利用の可否Accept/Not
利用者による測定:
基本料金Fees
10,000円/1時間20,000円/1サンプル

留意点 / Notes

自己測定の利用希望者は、機器管理者からオペトレ(サンプル調整含む)を受講した後、自己測定を行う。(回数が多い場合ライセンスを与え自己測定)