機器詳細情報 ユニット：構造解析システム
- 単色光X線回折装置(XRD)
- SmartLab
| 設備IDID No. | 19 |
|---|---|
| メーカーManufacturer | リガク |
| 検索キーワードKeyword | XRD |
| 概要・性能Outline | X線は、波長が短く、エネルギーの高い電磁波の為、回折によって原子の配列情報が取得でき元素同定が可能である。 原子が正しく配列している（配列面を格子面という）物質に、原子の間隔と同程度の波長（0.5Å~3.0Å）を持つX線を入射すると、各原子で散乱されたX線が、ある特定の方向で干渉しあい、強いX線を生じる。このX線の回折を観察(X線回折プロファイル)することで、 物質の同定を行う。 |
| 仕 様Spec | 特色･仕様： 本装置は、単色光X線回折装置である。非暴露仕様のため、大気非接触でX線回折分析が可能である。また単色光であることから正確な構造解析ができ、時間をかけることにより高精度の分析結果が期待できる。論文データ用に使用。 装置が測定の最適条件をガイダンスすることで、膜厚測定、配向測定、粒径空孔径分布測定等薄膜材料の測定を可能としている。 実例：セラミックス粉末の構造解析 |
| 設置場所Location | すずかけ台 G1棟701号室 |
| 機器管理者Machine Administrator | 物質理工学院応用化学系 松井直喜 |
| 連絡先（内線）Contact(Internal) | b-xrps[at]tokyotech-pai.jp (5561) |
| 予約方式Reserve Type | 通常予約 |
利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees
| 学内 / Within University | 学外 / Outside University | |||
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| （セルフ / Self use） | （依頼測定 / Measurement request） | 学術利用 （本学以外の大学又は公的機関） | 産業利用 （公企業・私企業） |
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| 利用の可否Accept/Not |  |  |  | |
| 利用者による測定： 基本料金Fees | 1,000円/1時間 | 2,000円/1サンプル | ||
留意点 / Notes
自己測定の利用希望者は、機器管理者からオペトレ（サンプル調整含む）を受講した後、自己測定を行う。（回数が多い場合ライセンスを与え自己測定）