機器詳細情報 ユニット：最表面分析システム
- X線光電子分光光度計(XPS)
- JPS 9010
| 設備IDID No. | 40 |
|---|---|
| メーカーManufacturer | 日本電子 |
| 検索キーワードKeyword | 分光計、XPS、Ｘ線 |
| 概要・性能Outline | 試料表面にＸ線を照射し、生じる光電子のエネルギーから構成元素や化学（結合）状態について探索可能。元素マッピングにも応用される。 |
| 仕 様Spec | 【試料について】基板試料：四方10mm×厚さ5mm以内、粉末試料：揮発性成分は除去しておく必要がある 【線源】Mg Kα線、Al Kα線、単色化Al Kα線 【使用可能なオプション】帯電防止中和銃、Arエッチング |
| 設置場所Location | 大岡山 南1号館207号室 |
| 機器管理者Machine Administrator | 山中一郎 |
| 連絡先（内線）Contact(Internal) | c-jps[at]tokyotech-pai.jp (2624) |
| 予約方式Reserve Type | 仮予約（要承認） |
利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees
| 学内 / Within University | 学外 / Outside University | |||
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| （セルフ / Self use） | （依頼測定 / Measurement request） | 学術利用 （本学以外の大学又は公的機関） | 産業利用 （公企業・私企業） |
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| 利用の可否Accept/Not |  |  | | |
| 利用者による測定： 基本料金Fees | 3,000円/1時間、上限30,000円/日 | |||
| 講習会受講料Training fee | 3,000円/1時間/人 | |||
留意点 / Notes
実験内容・条件について相談後、講習を経て使用可能