機器詳細情報 ユニット：組織計測システム
- 共焦点ラマン顕微鏡
- XploRA PLUS
| 設備IDID No. | 64 |
|---|---|
| メーカーManufacturer | 堀場製作所 |
| 検索キーワードKeyword | ラマン 顕微鏡 |
| 概要・性能Outline | 試料にレーザー光を照射すると、試料の分子構造に応じたラマン散乱光が得られる。ラマンスペクトルは、物質の化学構造あるいは分子構造を特徴づける「指紋」として捉えられる。 |
| 仕 様Spec | 特色： 振動スペクトル計測 仕様： 励起光源 532nm（ｸﾞﾘｰﾝﾚｰｻﾞｰ） 785nm（近赤外ﾚｰｻﾞｰ） 実例： ラマン散乱光の測定による分子構造解析 |
| 設置場所Location | 大岡山 南７号館506号室 |
| 機器管理者Machine Administrator | 物質理工学院 先端研究基盤促進事業 中薗豊 岸哲生 |
| 連絡先（内線）Contact(Internal) | tech[at]tokyotech-pai.jp (3513) |
| 予約方式Reserve Type | 通常予約 |
利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees
| 学内 / Within University | 学外 / Outside University | |||
|---|---|---|---|---|
| （セルフ / Self use） | （依頼測定 / Measurement request） | 学術利用 （本学以外の大学又は公的機関） | 産業利用 （公企業・私企業） |
|
| 利用の可否Accept/Not |  |  | | |
| 利用者による測定： 基本料金Fees | 2,000円/1時間 | |||
| 講習会受講料Training fee | 2,000円/回（一人当たり） | |||