機器詳細情報 ユニット：【Ａ】ナノ組織観察システム
- 分析走査電子顕微鏡（SEM）
- JSM-6510LA
| 設備IDID No. | 39 |
|---|---|
| メーカーManufacturer | 日本電子 |
| 検索キーワードKeyword | 走査型電子顕微鏡 走査電子顕微鏡 SEM 表面分析 表面観察 Scanning Electron Microscopy Scanning Electron Microscope |
| 概要・性能Outline | 電子線を照射したときに生じる二次電子・反射電子の結像・シグナルから試料の表面微細構造や組成分布を探索する |
| 仕 様Spec | |
| 設置場所Location | 大岡山 南1号館／212号室 |
| 機器管理者Machine Administrator | 物質理工学院 久保内昌敏 |
| 連絡先（内線）Contact(Internal) | a-jsema[at]tokyotech-pai.jp（2119） |
| 予約方式Reserve Type | 通常予約 |
利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees
| 学内 / Within University | 学外 / Outside University | |||
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| （セルフ / Self use） | （依頼測定 / Measurement request） | 学術利用 （本学以外の大学又は公的機関） | 産業利用 （公企業・私企業） |
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| 利用の可否Accept/Not |  |  | | |
| 利用者による測定： 基本料金Fees | 2,000円/1時間 | |||
| 講習会受講料Training fee | 2,000円/1時間/人 | |||
留意点 / Notes
実験内容・条件について相談後、講習を経て使用可能