東京工業大学 共用機器管理システム

機器詳細情報 ユニット:ナノ組織観察システム

  • 走査型電子顕微鏡(SEM)
  • S-4800
設備IDID No.14
メーカーManufacturer日立ハイテクノロジーズ
検索キーワードKeyword顕微鏡、電子顕微鏡、走査電子顕微鏡、SEM、表面分析
概要・性能Outline電子線を照射したときに生じる二次電子・反射電子の結像・シグナルから試料の表面微細構造や組成分布を探索する
仕  様Spec
設置場所Locationすずかけ台J2-507
機器管理者Machine Administrator北本仁孝
連絡先(内線)Contact(Internal)5424
予約方式Reserve Type通常予約

利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees

学内 / Within University学外 / Outside University
(セルフ / Self use)(依頼測定 / Measurement request)学術利用
(本学以外の大学又は公的機関)
産業利用
(公企業・私企業)
利用の可否Accept/Not
利用者による測定:
基本料金Fees
2,000円/時

留意点 / Notes

実験内容・条件について相談後、講習を経て使用可能