| ID | 画像 photo |
研究設備名称／型式 Machine |
メーカー Manufacturer |
設置場所 Location |
対象 Openness |
詳細/予約 Detail/Reserve |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 2 |
|
X線光電子分光分析装置（XPS） ESCA 5500MT | アルバックファイ | 大岡山 南7号館410号室 |
 |
|
| 3 |
|
X線/紫外光電子分光分析装置（XPS) PHI 1600 | アルバック・ファイ株式会社 （ULVAC-PHI） | 大岡山 南7号館410号室 |
|
|
| 4 |
|
走査型X線光電子分光分析装置（XPS) PHI5000 VersaProbe | アルバック・ファイ株式会社 （ULVAC-PHI） | 大岡山 南7号館410号室 |
|
|
| 5 |
|
環境制御型光電子分光/昇温脱離分光装置（XPS） ESCA 1700R | アルバック・ファイ株式会社 （ULVAC-PHI） | すずかけ台 G1-618 |
|
|
| 7 |
|
高温Ｘ線CT inspecXio SMX225 | 島津製作所 | 大岡山 S7-601 |
|
|
| 9 |
|
マトリクス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析計（MALDI-TOFMS） AXIMA-Performance | 島津製作所 | 大岡山 S8-819 |
|
|
| 10 |
|
顕微レーザー分光分析・レーザー局所加熱装置 Model 3900S | スぺクトラフィジックスほか | 大岡山 S7-402 |
|
|
| 13 |
|
透過型電子顕微鏡（TEM) H-8100 | 日立ハイテクノロジーズ | すずかけ台J2-507 |
|
|
| 14 |
|
走査型電子顕微鏡（SEM) S-4800 | 日立ハイテクノロジーズ | すずかけ台J2-507 |
|
|
| 15 |
|
電界放出型走査電子顕微鏡 (SEM) S-5500 | 日立ハイテクノロジーズ | 大岡山 E2-204 |
|
|
| 16 |
|
集束イオンビーム加工装置（FIB) FB2200 | 日立ハイテクノロジーズ | すずかけ台J2-507 |
|
|
| 19 |
|
単色光X線回折装置(XRD) SmartLab | リガク | すずかけ台 G1棟701号室 |
|
|
| 20 |
|
単結晶X線回折装置(XRD) R-AXIS RAPID/F | リガク | すずかけ台 G1棟720号室 |
|
|
| 21 |
|
温度･雰囲気制御型X線回折装置 Ultima IV | リガク | すずかけ台 G1棟701号室 |
|
|
| 22 |
|
薄膜X線回折装置(XRD) ATX-G | リガク | すずかけ台 G1棟701号室 |
|
|
| 27 |
|
極微小結晶用X線構造解析装置(XRD) Saturn | リガク | 大岡山 南1号館111号室 |
|
|
| 28 |
|
ナノ粒子解析装置 SZ-100 | 堀場製作所 | 大岡山 S1-213 |
|
|
| 29 |
|
生体分子相互作用解析システム X100 Plus Package | GEヘルスケアジャパン | 大岡山 南1号館309号室 |
|
|
| 30 |
|
ペプチド合成装置 Bioanalytical Instrument MultiPep | INTAVIS | 大岡山 南1号館309号室 |
|
|
| 31 |
|
原子間力顕微鏡（AFM） 5420SPM | アジレントテクノロジー | 大岡山 E2-503 |
|
