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研究設備名称／型式 Machine |
メーカー Manufacturer |
設置場所 Location |
対象 Openness |
詳細/予約 Detail/Reserve |
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| 1 公開停止中 |
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多元薄膜蒸着装置 VPE-300T | VICインターナショナル | 大岡山 南1号館606A号室 |
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X線光電子分光分析装置（XPS） ESCA 5500MT | アルバックファイ | 大岡山 南7号館410号室 |
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X線/紫外光電子分光分析装置（XPS) PHI 1600 | アルバック・ファイ株式会社 （ULVAC-PHI） | 大岡山 南7号館410号室 |
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走査型X線光電子分光分析装置（XPS) PHI5000 VersaProbe | アルバック・ファイ株式会社 （ULVAC-PHI） | 大岡山 南7号館410号室 |
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環境制御型光電子分光/昇温脱離分光装置（XPS） ESCA 1700R | アルバック・ファイ株式会社 （ULVAC-PHI） | すずかけ台 G1-618 |
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高温Ｘ線CT inspecXio SMX225 | 島津製作所 | 大岡山 S7-601 |
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| 8 公開停止中 |
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走査型プローブ顕微鏡 (SPM) SPM-9700 | 島津製作所 | 大岡山 S1-213 |
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マトリクス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析計（MALDI-TOFMS） AXIMA-Performance | 島津製作所 | 大岡山 S8-819 |
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顕微レーザー分光分析・レーザー局所加熱装置 Model 3900S | スぺクトラフィジックスほか | 大岡山 S7-402 |
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CHN全自動元素分析装置 パーキンエルマー 2400Ⅱ | パーキンエルマー | 大岡山 S1-621 |
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CHN全自動元素分析装置 パーキンエルマー 2400Ⅱ | パーキンエルマー | 大岡山 E2-202 |
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透過型電子顕微鏡（TEM) H-8100 | 日立ハイテクノロジーズ | すずかけ台J2-507 |
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走査型電子顕微鏡（SEM) S-4800 | 日立ハイテクノロジーズ | すずかけ台J2-507 |
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電界放出型走査電子顕微鏡 (SEM) S-5500 | 日立ハイテクノロジーズ | 大岡山 E2-204 |
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集束イオンビーム加工装置（FIB) FB2200 | 日立ハイテクノロジーズ | すずかけ台J2-507 |
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単色光X線回折装置(XRD) SmartLab | リガク | すずかけ台 G1棟701号室 |
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単結晶X線回折装置(XRD) R-AXIS RAPID/F | リガク | すずかけ台 G1棟720号室 |
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温度･雰囲気制御型X線回折装置 Ultima IV | リガク | すずかけ台 G1棟701号室 |
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薄膜X線回折装置(XRD) ATX-G | リガク | すずかけ台 G1棟701号室 |
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イメージングプレート単結晶自動X線構造解析装置 R-AXIS RAPID | リガク | 大岡山 南1号館112号室 |
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