【東京科学大学 PAIMS共用機器予約システム】 (Science Tokyo)Analytical Instrument Reservation System

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研究設備名称/型式
Machine
メーカー
Manufacturer
設置場所
Location
対象
Openness
詳細/予約
Detail/Reserve
2
公開停止中
X線光電子分光分析装置(XPS) ESCA-5500MT アルバック・ファイ(ULVAC-PHI) 大岡山 南7号館/410号室
3 X線/紫外光電子分光分析装置(XPS) PHI-1600 アルバック・ファイ(ULVAC-PHI) 大岡山 南7号館/410号室
4 走査型X線光電子分光分析装置(XPS) VersaProbe アルバック・ファイ(ULVAC-PHI) 大岡山 南7号館/410号室
5 環境制御型光電子分光/昇温脱離分光装置(XPS) ESCA1700R アルバック・ファイ(ULVAC-PHI) すずかけ台 G1棟/618号室
7 X線CT inspeXio SMX-225CT 島津製作所 大岡山 南7号館/601号室
9 マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析計 MALDI-8030 島津製作所 大岡山 南8号館/819号室
13 透過型電子顕微鏡(TEM) H-8100 日立ハイテク すずかけ台 J2・J3棟/507号室
14 走査型電子顕微鏡(SEM) S-4800 日立ハイテク すずかけ台 J2・J3棟/507号室
15 電界放出型走査電子顕微鏡(SEM) S-5500 日立ハイテク 大岡山 東2号館/204号室
16 集束イオンビーム加工装置(FIB) FB2200 日立ハイテク すずかけ台 J2・J3棟/507号室
19 単色光X線回折装置(XRD) SmartLab リガク すずかけ台 G1棟/701号室
28 ナノ粒子解析装置 SZ-100 堀場製作所 大岡山 南1号館/213号室
38 雰囲気制御型走査型電子顕微鏡(SEM) JSM-6610 日本電子 すずかけ台 G1棟/016号室
39 分析走査電子顕微鏡(SEM) JSM-6510LA 日本電子 大岡山 南1号館/212号室
40 X線光電子分光光度計(XPS) JPS-9010 日本電子 大岡山 南1号館/207号室
63 小角X線散乱装置(SAXS) NANOPIX mini リガク 大岡山 南3号館/204号室
64 共焦点ラマン顕微鏡 XploRA PLUS 堀場製作所 大岡山 南7号館/506号室
65 X線分析顕微鏡装置 M4 TORNADO ブルカージャパン 大岡山 南7号館/204号室
66 3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A 東京インスツルメンツ 大岡山 南8号館/719A号室
67 物理特性測定システム PPMS 日本カンタム・デザイン 大岡山 南3号館/204号室
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