東京工業大学 共用機器予約システム

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研究設備名称/型式
Machine
メーカー
Manufacturer
設置場所
Location
対象
Openness
詳細/予約
Detail/Reserve
2
公開停止中
X線光電子分光分析装置(XPS) ESCA 5500MT アルバックファイ(ULVAC-PHI) 大岡山 南7号館410号室
3 X線/紫外光電子分光分析装置(XPS) PHI 1600 アルバック・ファイ (ULVAC-PHI) 大岡山 南7号館410号室
4 走査型X線光電子分光分析装置(XPS) VersaProbe アルバック・ファイ (ULVAC-PHI) 大岡山 南7号館410号室
5 環境制御型光電子分光/昇温脱離分光装置(XPS) ESCA 1700R アルバック・ファイ (ULVAC-PHI) すずかけ台 G1棟618号室
7 X線CT inspeXio SMX-225 島津製作所 大岡山 南7号館601号室
9 マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析計 MALDI-8030 島津製作所 大岡山 南8号館819号室
13 透過型電子顕微鏡(TEM) H-8100 日立ハイテクノロジーズ すずかけ台 J2棟507号室
14 走査型電子顕微鏡(SEM) S-4800 日立ハイテクノロジーズ すずかけ台 J2棟507号室
15 電界放出型走査電子顕微鏡 (SEM) S-5500 日立ハイテクノロジーズ 大岡山 東2号館204号室
16 集束イオンビーム加工装置(FIB) FB2200 日立ハイテクノロジーズ すずかけ台 J2棟507号室
19 単色光X線回折装置(XRD) SmartLab リガク すずかけ台 G1棟701号室
28 ナノ粒子解析装置 SZ-100 堀場製作所 大岡山 南1号館213号室
38 雰囲気制御型走査型電子顕微鏡 (SEM) JSM-6610 日本電子 すずかけ台 G1棟016号室
39 分析走査電子顕微鏡 (SEM) JSM-6510LA 日本電子 大岡山 南1号館212号室
40 X線光電子分光光度計(XPS) JPS 9010 日本電子 大岡山 南1号館207号室
60 二重収束型質量分析計(DF-MS) JMS 700 日本電子 大岡山 東1号館13号室
63 小角X線散乱装置  NANOPIXmini リガク 大岡山 南3号館204号室
64 共焦点ラマン顕微鏡  XploRA PLUS 堀場製作所 大岡山 南7号館506号室
65 X線分析顕微鏡装置 M4 TORNADO ブルカージャパン 大岡山 南7号館204号室
66 3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A 東京インスツルメンツ 大岡山 西4号館102号室
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