東京工業大学 共用機器管理システム

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研究設備名称/型式
Machine
メーカー
Manufacturer
設置場所
Location
対象
Openness
詳細/予約
Detail/Reserve
1 多元薄膜蒸着装置 VPE-300T VICインターナショナル 大岡山 南1号館606A号室
2 X線光電子分光分析装置(XPS) ESCA 5500MT アルバックファイ 大岡山 南7号館410号室
3 X線/紫外光電子分光分析装置(XPS) PHI 1600 アルバックファイ 大岡山 南7号館410号室
4 走査型X線光電子分光分析装置(XPS) VersaProbe アルバックファイ 大岡山 南7号館410号室
5 環境制御型光電子分光/昇温脱離分光装置(XPS) ESCA 1700R アルバックファイ すずかけ台 G1-618
7 高温X線CT inspecXio SMX225 島津製作所 大岡山 S7-601
8 走査型プローブ顕微鏡 (SPM) SPM-9700 島津製作所 大岡山 S1-213
9 マトリクス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析計(MALDI-TOFMS) AXIMA-Performance 島津製作所 大岡山 S8-819
10 顕微レーザー分光分析・レーザー局所加熱装置 Model 3900S スぺクトラフィジックスほか 大岡山 S7-402
11 CHN全自動元素分析装置 パーキンエルマー 2400Ⅱ パーキンエルマー 大岡山 S1-621
12 CHN全自動元素分析装置 パーキンエルマー 2400Ⅱ パーキンエルマー 大岡山 E2-202
13 透過型電子顕微鏡(TEM) H-8100 日立ハイテクノロジーズ すずかけ台J2-507
14 走査型電子顕微鏡(SEM) S-4800 日立ハイテクノロジーズ すずかけ台J2-507
15 電界放出型走査電子顕微鏡 (SEM) S-5500 日立ハイテクノロジーズ 大岡山 E2-204
16 集束イオンビーム加工装置(FIB) FB2200 日立ハイテクノロジーズ すずかけ台J2-507
19 単色光X線回折装置(XRD) SmartLab リガク すずかけ台 G1棟701号室
20 単結晶X線回折装置(XRD) R-AXIS RAPID/F リガク すずかけ台 G1棟720号室
21 温度・雰囲気制御型X線回折装置 Ultima IV リガク すずかけ台 G1棟701号室
22 薄膜X線回折装置(XRD) ATX-G リガク すずかけ台 G1棟701号室
23 イメージングプレート単結晶自動X線構造解析装置 R-AXIS RAPID リガク 大岡山 南1号館112号室
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