東京工業大学 共用機器予約システム

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photo
研究設備名称/型式
Machine
メーカー
Manufacturer
設置場所
Location
対象
Openness
詳細/予約
Detail/Reserve
38 雰囲気制御型走査型電子顕微鏡 (SEM) JSM-6610 日本電子 すずかけ台 G1棟016号室
28 ナノ粒子解析装置 SZ-100 堀場製作所 大岡山 南1号館213号室
19 単色光X線回折装置(XRD) SmartLab リガク すずかけ台 G1棟701号室
16 集束イオンビーム加工装置(FIB) FB2200 日立ハイテクノロジーズ すずかけ台 J2棟507号室
15 電界放出型走査電子顕微鏡 (SEM) S-5500 日立ハイテクノロジーズ 大岡山 東2号館204号室
14 走査型電子顕微鏡(SEM) S-4800 日立ハイテクノロジーズ すずかけ台 J2棟507号室
13 透過型電子顕微鏡(TEM) H-8100 日立ハイテクノロジーズ すずかけ台 J2棟507号室
9 マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析計 MALDI-8030 島津製作所 大岡山 南8号館819号室
7 X線CT inspeXio SMX-225 島津製作所 大岡山 南7号館601号室
5 環境制御型光電子分光/昇温脱離分光装置(XPS) ESCA 1700R アルバック・ファイ (ULVAC-PHI) すずかけ台 G1棟618号室
4 走査型X線光電子分光分析装置(XPS) VersaProbe アルバック・ファイ (ULVAC-PHI) 大岡山 南7号館410号室
3 X線/紫外光電子分光分析装置(XPS) PHI 1600 アルバック・ファイ (ULVAC-PHI) 大岡山 南7号館410号室
2
公開停止中
X線光電子分光分析装置(XPS) ESCA 5500MT アルバックファイ(ULVAC-PHI) 大岡山 南7号館410号室
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