【東京科学大学 PAIMS共用機器予約システム】 (Science Tokyo)Analytical Instrument Reservation System

機器詳細情報 ユニット:【B】構造解析システム

  • X線回折装置
  • RINT-2100V
設備IDID No.68
メーカーManufacturerリガク
検索キーワードKeywordX線回折装置 X線回折装置
X線回折法 X線回折法 XRD
粉末 薄膜 Cu管球
X-ray Diffraction
概要・性能OutlineX線は、波長が短く、エネルギーの高い電磁波のため、回折によって原子の配列情報が取得でき元素同定が可能である。原子が正しく配列している(配列面を格子面という)物質に、原子の間隔と同程度の波長(0.5~3.0Å)を持つX線を入射すると、各原子で散乱されたX線が、ある特定の方向で干渉しあい、強いX線を生じる。このX線の回折を観察(X線回折プロファイル)することで物質の同定を行う。
仕  様SpecCu管球:定格2kw(通常40kv-30mA)   連続スキャン、ステップスキャンが可能。
設置場所Locationすずかけ台 J2・J3棟/603号室
機器管理者Machine Administrator物質理工学院 北本仁孝 大久保喬平
連絡先(内線)Contact(Internal)c-rint[at]tokyotech-pai.jp(5429)
予約方式Reserve Type通常予約

利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees

学内 / Within University学外 / Outside University
(セルフ / Self use)(依頼測定 / Measurement request)学術利用
(本学以外の大学又は公的機関)
産業利用
(公企業・私企業)
利用の可否Accept/Not
利用者による測定:
基本料金Fees
500円/1時間 上限5,000円/日
講習会受講料Training fee5,000円/回/人
年額利用料調整中