東京工業大学 共用機器予約システム

機器詳細情報 ユニット:【C】最表面分析システム

  • 波長分散型蛍光X線分析装置(XRF)
  • PW4400/40
設備IDID No.80
メーカーManufacturerMalvern Panalytical
検索キーワードKeywordXRF 蛍光X線分析装置
概要・性能Outline波長分散型蛍光XRF装置 装置のオートチェンジャー付き
仕  様Spec検出可能元素:C-U 最大出力:4kw
設置場所Locationすずかけ台 J2・J3棟/509号室
機器管理者Machine Administrator物質理工学院 舟窪浩
連絡先(内線)Contact(Internal)c-xrf[at]tokyotech-pai.jp(5446)
予約方式Reserve Type通常予約

利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees

学内 / Within University学外 / Outside University
(セルフ / Self use)(依頼測定 / Measurement request)学術利用
(本学以外の大学又は公的機関)
産業利用
(公企業・私企業)
利用の可否Accept/Not
利用者による測定:
基本料金Fees
200円/1時間 上限800円/4時間~24時間)
講習会受講料Training fee100,000円/回(新規研究室初回のみ)

留意点 / Notes

実験内容・条件について相談後、講習を経て使用可能