機器詳細情報 ユニット：最表面分析システム（C）
- 波長分散型蛍光X線分析装置(XRF)
- PW4400/40
| 設備IDID No. | 80 |
|---|---|
| メーカーManufacturer | Malvern Panalytical |
| 検索キーワードKeyword | XRF 蛍光X線分析装置 |
| 概要・性能Outline | 波長分散型蛍光XRF装置 装置のオートチェンジャー付き |
| 仕 様Spec | 検出可能元素：C-U 最大出力：4kw |
| 設置場所Location | すずかけ台 J2棟509号室 |
| 機器管理者Machine Administrator | 舟窪 浩 |
| 連絡先（内線）Contact(Internal) | c-xrf[at]tokyotech-pai.jp(5446) |
| 予約方式Reserve Type | 通常予約 |
利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees
| 学内 / Within University | 学外 / Outside University | |||
|---|---|---|---|---|
| （セルフ / Self use） | （依頼測定 / Measurement request） | 学術利用 （本学以外の大学又は公的機関） | 産業利用 （公企業・私企業） |
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| 利用の可否Accept/Not |  |  | | |
| 利用者による測定： 基本料金Fees | 200円/1時間 上限800円/4時間～24時間） | |||
| 講習会受講料Training fee | 100,000円/回（新規研究室初回のみ） | |||
留意点 / Notes
実験内容・条件について相談後、講習を経て使用可能