東京工業大学 共用機器管理システム

機器詳細情報 ユニット:構造解析システム(B79)

  • 薄膜X線回折装置(X'Pert-Pro MRD)
設備IDID No.79
メーカーManufacturerMalvern Panalytica
検索キーワードKeyword薄膜X線
概要・性能Outline膜形態サンプルのX線プロファイルを測定可能である。また、多軸可動により、配向膜の対称面および非対称面の測定も可能である。
仕  様Spec本装置はCuを線源としており、40kV,30mAを基本出力としている。ビーム系は1mm×1mmである。光学系のセットアップは配向膜の非対称面の測定にも対応しており、逆格子空間マッピング測定も可能である。実例:セラミックス薄膜の構造解析
設置場所Locationすずかけ台 J2-603
機器管理者Machine Administrator舟窪浩
連絡先(内線)Contact(Internal)
予約方式Reserve Type通常予約

利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees

学内 / Within University学外 / Outside University
(セルフ / Self use)(依頼測定 / Measurement request)学術利用
(本学以外の大学又は公的機関)
産業利用
(公企業・私企業)
利用の可否Accept/Not
利用者による測定:
基本料金Fees
500円/時間
講習会受講料Training fee5,000円/回(新規研究室初回のみ)