機器詳細情報 ユニット:【D】組織計測システム
- 赤外分光光度計(IR)
- FT/IR-4200
設備IDID No. | 77 |
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メーカーManufacturer | 日本分光 |
検索キーワードKeyword | フーリエ変換赤外分光法 フーリエ変換赤外分光器 フーリエ変換赤外分光光度計 赤外線 FTIR FT-IR FT/IR Fourier Transform Infrared |
概要・性能Outline | フーリエ変換赤外分光光度計 |
仕 様Spec | 測定範囲 7800-350cm-1 分解能 0.5cm-1 |
設置場所Location | 大岡山 本館/304号室 |
機器管理者Machine Administrator | 物質理工学院 伊藤繁和 |
連絡先(内線)Contact(Internal) | d-jir[at]tokyotech-pai.jp(2143) |
予約方式Reserve Type | 通常予約 |
利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees
学内 / Within University | 学外 / Outside University | |||
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(セルフ / Self use) | (依頼測定 / Measurement request) | 学術利用 (本学以外の大学又は公的機関) | 産業利用 (公企業・私企業) |
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利用の可否Accept/Not | ||||
利用者による測定: 基本料金Fees | 1,000円/1時間 | 1,500円/1サンプル | ||
講習会受講料Training fee | 5,000円/回/人 |
留意点 / Notes
利用希望者は、オペトレ受講後自主測定