ID | 画像 photo |
研究設備名称/型式 Machine |
メーカー Manufacturer |
設置場所 Location |
対象 Openness |
詳細/予約 Detail/Reserve |
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紫外可視近赤外分光光度計 U-4100 | 日立ハイテクサイエンス | 大岡山 本館304号室 |
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77 |
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赤外分光光度計(IR) FT/IR-4200 | 日本分光㈱ | 大岡山 本館304号室 |
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78 |
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質量分析計(MS) JMS T100LC | 日本電子㈱ | 大岡山 本館304号室 |
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79 |
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薄膜X線回折装置 X’Pert-Pro MRD | Malvern Panalytical | すずかけ台 J2-603 |
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