機器詳細情報 ユニット:【F】質量元素分析システム
- 二重収束型質量分析計(DF-MS)
- JMS-700
設備IDID No. | 60 |
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メーカーManufacturer | 日本電子 |
検索キーワードKeyword | 質量分析 FAB |
概要・性能Outline | 加速されたイオンに対して磁場セクター・電場セクターの配置によって方向および速度収束補正を行うことで高感度な質量分析が可能 |
仕 様Spec | イオン源やパラメータをオートチューニングにより決定可能 |
設置場所Location | 大岡山 東1号館/13号室 |
機器管理者Machine Administrator | 理学院 鶴巻英治 |
連絡先(内線)Contact(Internal) | f-jms[at]tokyotech-pai.jp(2311) |
予約方式Reserve Type | 通常予約 |
利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees
学内 / Within University | 学外 / Outside University | |||
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(セルフ / Self use) | (依頼測定 / Measurement request) | 学術利用 (本学以外の大学又は公的機関) | 産業利用 (公企業・私企業) |
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利用の可否Accept/Not | ||||
利用者による測定: 基本料金Fees | 500円/1サンプル | 2,000円/1サンプル | ||
講習会受講料Training fee | 500円/回/人 |
留意点 / Notes
実験内容・条件について相談後、講習を経て使用可能