東京工業大学 共用機器管理システム

機器詳細情報 ユニット:構造解析システム

  • 粉末結晶X線回折装置(XRD)
  • Smart Lab
設備IDID No.54
メーカーManufacturerリガク
検索キーワードKeywordXRD 粉末
概要・性能Outline原子が正しく配列(格子面)している物質に、原子の間隔と同程度の波長(0.5Å~3.0Å)を持つX線が入射すると、各原子に所属する電子によりX線が散乱される。散乱したX線は干渉しあい、特定の方向で強めあう。これがX線回折現象である。既知波長λの入射X線を物質に入射し、回折角2θとそのX線強度を測定することで、X線回折パターン(X線回折プロファイル)を得て、これから物質を同定する。
仕  様Spec特色:  装置が測定の最適条件をガイダンスすることで、膜厚測定、配向測定、粒径空孔径分布測定等薄膜材料の測定を可能としている。 仕様:  X線源出力  9kw (新メカニカルシールによりライフタイムが大幅に改善) 検出器    ハイブリッドピクセルアレイ検出器 Cu ターゲット 室温のみ対応 実例:薄膜評価、小角散乱、粉末解析
設置場所Location大岡山 本館H349号室
機器管理者Machine Administrator関根あき子 
連絡先(内線)Contact(Internal)2608
予約方式Reserve Type通常予約

利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees

学内 / Within University学外 / Outside University
(セルフ / Self use)(依頼測定 / Measurement request)学術利用
(本学以外の大学又は公的機関)
産業利用
(公企業・私企業)
利用の可否Accept/Not
利用者による測定:
基本料金Fees
750円/時間

留意点 / Notes

装置使用者はフィルムバッチなど電離放射線の特殊検診を受け、電離放射線に関する教育を受けなければならない。使用は監守者グループの指揮下での練習後に許可を受ける。 自己測定の利用希望者は、機器管理者からオペトレ(サンプル調整含む)を受講した後、自己測定を行う。データは自己解析。(回数が多い場合ライセンスを与え自己測定)