東京工業大学　共用機器予約システム

• 粉末結晶X線回折装置(XRD)
• Smart Lab

設備IDID No.	54
メーカーManufacturer	リガク
検索キーワードKeyword	XRD 粉末
概要・性能Outline	原子が正しく配列（格子面）している物質に、原子の間隔と同程度の波長(0.5Å~3.0Å)を持つX線が入射すると、各原子に所属する電子によりX線が散乱される。散乱したX線は干渉しあい、特定の方向で強めあう。これがX線回折現象である。既知波長λの入射X線を物質に入射し、回折角2θとそのX線強度を測定することで、X線回折パターン（X線回折プロファイル）を得て、これから物質を同定する。
仕　　様Spec	特色： 　装置が測定の最適条件をガイダンスすることで、膜厚測定、配向測定、粒径空孔径分布測定等薄膜材料の測定を可能としている。 仕様： 　X線源出力　　9kw （新メカニカルシールによりライフタイムが大幅に改善） 検出器　　　　ハイブリッドピクセルアレイ検出器 Cu ターゲット　室温のみ対応 実例：薄膜評価、小角散乱、粉末解析
設置場所Location	大岡山　本館349号室
機器管理者Machine Administrator	関根あき子
連絡先（内線）Contact(Internal)	b-xrpl[at]tokyotech-pai.jp (2608)
予約方式Reserve Type	通常予約

利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees

	学内 / Within University		学外 / Outside University
	（セルフ / Self use）	（依頼測定 / Measurement request）	学術利用 （本学以外の大学又は公的機関）	産業利用 （公企業・私企業）
利用の可否Accept/Not
利用者による測定： 基本料金Fees	750円/時間

留意点 / Notes

装置使用者はフィルムバッチなど電離放射線の特殊検診を受け、電離放射線に関する教育を受けなければならない。使用は監守者グループの指揮下での練習後に許可を受ける。 自己測定の利用希望者は、機器管理者からオペトレ（サンプル調整含む）を受講した後、自己測定を行う。データは自己解析。（回数が多い場合ライセンスを与え自己測定）