東京工業大学 共用機器管理システム

機器詳細情報 ユニット:構造解析システム

  • イメージングプレート単結晶自動X線構造解析装置
  • R-AXIS RAPID
設備IDID No.23
メーカーManufacturerリガク
検索キーワードKeywordXRD イメージングプレート
概要・性能OutlineX線は、波長が短く、エネルギーの高い電磁波の為、回折によって原子の配列情報が取得でき元素同定が可能である。 原子が正しく配列している(配列面を格子面という)物質に、原子の間隔と同程度の波長(0.5Å~3.0Å)を持つX線を入射すると、各原子で散乱されたX線が、ある特定の方向で干渉しあい、強いX線を生じる。このX線の回折を観察(X線回折プロファイル)することで、 物質の同定を行う。
仕  様Spec特色: 広いダイナミックレンジを持つイメージングプレートを用いた単結晶X線構造解析装置で、単結晶薄膜の配向、膜厚、逆格子マップ測定が可能である。また低分子結晶だけでなくたんぱく質結晶や多結晶の測定も可能。 仕様:  CCD検出器と異なり、反射強度レンジが広いため広角が測定 しやすい。  Moターゲット:金属含む無機物に適する。
設置場所Location大岡山 南1号館112号室
機器管理者Machine Administrator大石理貴
連絡先(内線)Contact(Internal)3932
予約方式Reserve Type積上方式

利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees

学内 / Within University学外 / Outside University
(セルフ / Self use)(依頼測定 / Measurement request)学術利用
(本学以外の大学又は公的機関)
産業利用
(公企業・私企業)
利用の可否Accept/Not
利用者による測定:
基本料金Fees
500円/1時間

留意点 / Notes

装置使用者はフィルムバッチなど電離放射線の特殊検診を受け、電離放射線に関する教育を受けなければならない。使用は監守者グループの指揮下での練習後に許可を受ける。 自己測定の利用希望者は、機器管理者からオペトレ(サンプル調整含む)を受講した後、自己測定を行う。(回数が多い場合ライセンスを与え自己測定)