東京工業大学 共用機器管理システム

機器詳細情報 ユニット:最表面分析システム

  • 顕微レーザー分光分析・レーザー局所加熱装置
  • Model 3900S
設備IDID No.10
メーカーManufacturerスぺクトラフィジックスほか
検索キーワードKeyword分光計、蛍光分光、レーザー加熱
概要・性能Outline顕微鏡下にある試料に種々のレーザー光を照射し、生じる蛍光の分光スペクトルの取得、試料加熱を行うことができる。
仕  様Spec波長可変固体近赤外レーザーを用いた局所加熱が可能、レーザー可変波長:675-1100 nm
設置場所Location大岡山 S7-402
機器管理者Machine Administrator物質理工学院材料系 矢野哲司、岸哲生
連絡先(内線)Contact(Internal)2522
予約方式Reserve Type通常予約

利用対象者・利用料金 / Openness level & Fees

学内 / Within University学外 / Outside University
(セルフ / Self use)(依頼測定 / Measurement request)学術利用
(本学以外の大学又は公的機関)
産業利用
(公企業・私企業)
利用の可否Accept/Not
利用者による測定:
基本料金Fees
1,500円/1時間

留意点 / Notes

実験内容・条件について事前相談後、講習を経てライセンス授与後使用可能